第9回総合試験機器展「TEST2007」

第9回総合試験機器展｢TEST2007｣において、ナノテクノロジーの発展に寄与する「LMH 微小荷重疲労試験機｣と、広範囲なひずみの試験が可能な｢HMH 検力ブロック式高速材料試験機｣を実機展示致しました。
多数お客様のご来場ありがとうございました。

会場：東京ビッグサイト　西２ホール　T-6
会期：2007年4月4日（水）〜6日（金）
展示品：LMH 微小荷重疲労試験機、HMH 検力ブロック式高速材料試験機